長(zhǎng)度測(cè)量工具是指將被測(cè)長(zhǎng)度與已知長(zhǎng)度比較，從而得出測(cè)量結(jié)果的工具，簡(jiǎn)稱測(cè)量工具。長(zhǎng)度測(cè)量工具包括量規(guī)、量具和量?jī)x。習(xí)慣上常把不能指示量值的測(cè)量工具稱為量規(guī);把能指示量值，拿在手中使用的測(cè)量工具稱為量具;把能指示量值的座式和上置式等測(cè)量工具稱為量?jī)x。

　　最早在機(jī)械制造中使用的是一些機(jī)械式測(cè)量工具，例如角尺、卡鉗等;16世紀(jì)，在火炮制造中已開始使用光滑量規(guī);1772年和1805年，英國(guó)的瓦特和莫茲利等，先后制造出利用螺紋副原理測(cè)長(zhǎng)的瓦特千分尺和校準(zhǔn)用測(cè)長(zhǎng)機(jī);19世紀(jì)中葉以后，又出現(xiàn)了類似于現(xiàn)代機(jī)械式外徑千分尺和游標(biāo)卡尺的測(cè)量工具;19世紀(jì)末期，出現(xiàn)了成套量塊。

　　繼機(jī)械測(cè)量工具之后出現(xiàn)的是一批光學(xué)測(cè)量工具。19世紀(jì)末，首先出現(xiàn)立式測(cè)長(zhǎng)儀;20世紀(jì)初，出現(xiàn)測(cè)長(zhǎng)機(jī);到20年代，已經(jīng)在機(jī)械制造中應(yīng)用投影儀、工具顯微鏡、光學(xué)測(cè)微儀等進(jìn)行測(cè)量;1928年出現(xiàn)氣動(dòng)量?jī)x，它是一種適合在大批量生產(chǎn)中使用的測(cè)量工具。

　　電學(xué)測(cè)量工具是30年代出現(xiàn)的。最初的是利用電感式長(zhǎng)度傳感器制成的界限量規(guī)和輪廓儀;50年代后期，出現(xiàn)了以數(shù)字顯示測(cè)量結(jié)果的坐標(biāo)測(cè)量機(jī);60年代中期，在機(jī)械制造中已應(yīng)用帶有電子計(jì)算機(jī)輔助測(cè)量的坐標(biāo)測(cè)量機(jī);至70年代初，又出現(xiàn)計(jì)算機(jī)數(shù)字控制的齒輪量?jī)x。至此，測(cè)量工具進(jìn)入應(yīng)用電子計(jì)算機(jī)的階段。

　　測(cè)量工具通常按用途分為通用測(cè)量工具、專類測(cè)量工具和專用測(cè)量工具三類;還可按工作原理分為機(jī)械、光學(xué)、氣動(dòng)、電動(dòng)和光電等類型，這種分類方法是由測(cè)量工具的發(fā)展歷史形成的。現(xiàn)代很多測(cè)量工具已經(jīng)發(fā)展成為同時(shí)采用精密機(jī)械、光、電等原理，并與電子計(jì)算機(jī)技術(shù)相結(jié)合的測(cè)量工具，因此，這種分類方法僅適用于工作原理單一的測(cè)量工具。

　　通用測(cè)量工具是指可以測(cè)量多種類型工件的長(zhǎng)度或角度的測(cè)量工具。這類測(cè)量工具的品種規(guī)格最多，使用也最廣泛，有量塊、角度量塊、多面棱體、正弦規(guī)、卡尺千分尺、百分表、多齒分度臺(tái)、比較儀、激光干涉儀、工具顯微鏡、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等。

　　專類測(cè)量工具是指用于測(cè)量某種幾何參數(shù)、形狀和位置誤差等的測(cè)量工具。主要有直線度和平面度測(cè)量工具，如直尺、平尺、平晶水平儀、自準(zhǔn)直儀等;表面粗糙度測(cè)量工具，如表面粗糙度樣塊、光切顯微鏡、干涉顯微鏡和表面粗糙度測(cè)量?jī)x等;圓度和圓柱度測(cè)量工具，如圓度儀、圓柱度測(cè)量?jī)x等;齒輪測(cè)量工具，常見的有齒輪綜合檢查儀、漸開線測(cè)量?jī)x、周節(jié)測(cè)量?jī)x、導(dǎo)程儀等;螺紋測(cè)量工具等。

　　專用測(cè)量工具是指僅適用于測(cè)量某特定工件的尺寸、表面粗糙度、形狀和位置誤差等的測(cè)量工具。常見的有自動(dòng)檢驗(yàn)機(jī)、自動(dòng)分選機(jī)、單尺寸和多尺寸檢驗(yàn)裝置等。

　　長(zhǎng)度測(cè)量工具的組成結(jié)構(gòu)主要有已知長(zhǎng)度、定位瞄準(zhǔn)、放大細(xì)分和顯示記錄等部分。量規(guī)基本上只有已知長(zhǎng)度部分。在一些量具、量?jī)x中，這幾部分也不是截然分開的，有的放大細(xì)分和顯示實(shí)際上是一個(gè)部分，例如百分表類測(cè)量工具;有的瞄準(zhǔn)、放大細(xì)分和顯示等部分是一個(gè)部件，例如讀數(shù)顯微鏡等。

　　定位瞄準(zhǔn)部分是用于確定被測(cè)長(zhǎng)度與已知長(zhǎng)度的相對(duì)位置，使兩者能正確地比較，從而得到準(zhǔn)確的量值的機(jī)構(gòu)。有接觸式和不接觸式兩種定位瞄準(zhǔn)方法。

　　放大細(xì)分部分是把已知長(zhǎng)度中的最小單位長(zhǎng)度放大細(xì)分，使之能準(zhǔn)確地分辨出已知長(zhǎng)度與被測(cè)長(zhǎng)度的微小差值的機(jī)構(gòu)，主要有機(jī)械、光學(xué)、氣動(dòng)、電學(xué)和光電等類型。

　　顯示記錄部分是將測(cè)量結(jié)果顯示、記錄出來(lái)的機(jī)構(gòu)。常見的顯示記錄方法有刻度指示、記錄顯示、數(shù)字顯示和圖象顯示等。

　　設(shè)計(jì)測(cè)量工具，應(yīng)盡可能遵守阿貝原則。它是德國(guó)的阿貝在19世紀(jì)60年代提出的。他認(rèn)為，在長(zhǎng)度測(cè)量中，被測(cè)長(zhǎng)度應(yīng)位于線紋尺刻度中心線的延長(zhǎng)線上。按此原則設(shè)計(jì)的測(cè)量工具，由導(dǎo)軌直線度誤差引起的測(cè)量誤差是二階誤差，一般可以忽略不計(jì)，這樣就可以獲得精確的測(cè)量結(jié)果。

　　在測(cè)量工具設(shè)計(jì)中也可采用愛賓斯坦平行光學(xué)系統(tǒng)，來(lái)補(bǔ)償由于導(dǎo)軌誤差引起的測(cè)量誤差，或采用電子計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正由于導(dǎo)軌誤差和被測(cè)長(zhǎng)度定位不正確等引起的測(cè)量誤差。除了阿貝原則外，設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)考慮的還有測(cè)量鏈最短原則、基面統(tǒng)一原則等。

　　測(cè)量工具按檢定規(guī)程檢定合格后，方能使用。一般是利用長(zhǎng)度標(biāo)準(zhǔn)器檢定，例如用量塊檢定千分尺和卡尺;用標(biāo)準(zhǔn)線紋尺檢定比長(zhǎng)儀和測(cè)長(zhǎng)機(jī)等。

　　利用兩臺(tái)以上相同精度等級(jí)的測(cè)量工具相互對(duì)比，以確定其精確度。這種方法適用于評(píng)定一些精度等級(jí)很高的測(cè)量工具，例如激光干涉儀、激光干涉比長(zhǎng)儀等，因?yàn)閷?duì)于這類高精度的測(cè)量工具，沒有合適精度的長(zhǎng)度標(biāo)準(zhǔn)器可供檢定之用。