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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及共性問題

[2015/10/12]

  一、概況環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法,隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國(guó)民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展,環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富,相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽、持續(xù)地得到實(shí)施,這就需要有質(zhì)量上乘,性能合格的試驗(yàn)設(shè)備,而要達(dá)到這一要求,就需有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn),以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。

  二、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)
  1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項(xiàng):
  GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件     GB10587-89鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
  GB10588-89長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件     GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
  GB10590-89低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件     GB10591-89高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
  GB10592-89高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件     GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
  GB11159-89低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

  2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題
  1)適用范圍在上述的九項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的所有廠家,對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)、質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí)作為依據(jù)。
  2)適應(yīng)性按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)合格的產(chǎn)品,其性能要符合相對(duì)應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求,按其檢驗(yàn)要求檢測(cè)合格的產(chǎn)品方可出廠。
  3)操作性設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實(shí)施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時(shí),該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。
  4)修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處九項(xiàng)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代,隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求,修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。

  3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項(xiàng)
  1)對(duì)基本環(huán)境條件的要求,綜合在一起主要有下列幾項(xiàng)
  A)溫度:15~35
  B)相對(duì)濕度:不大于85%RH
  C)大氣壓強(qiáng):86Kpa~106Kpa www.oven.cc
  D)熱輻射:無陽光起直射,無熱源直接輻射
  E)氣流:無強(qiáng)烈氣流,需要時(shí)不可直接吹到箱體上
  F)電磁場(chǎng):無強(qiáng)烈電磁場(chǎng)
  G)三廢:無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
  H)冷卻水源:水溫不大于30℃,水壓控制在0.1~0.3Mpa
  I)加濕水源:電阻率不低于500Ωm
  J)電源:220±22V、380±38V、50±0.5Hz

  2)負(fù)載要求:
  A)負(fù)載品種:一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等(鹽霧試驗(yàn)除外)
  B)負(fù)載條件:
  負(fù)載總質(zhì)量:50~80Kg/m3
  負(fù)載總體積:不大于工作室容積的1/5
  阻擋主風(fēng)道總面積:不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3
  鹽霧試驗(yàn)設(shè)備:規(guī)格:50100*(1~2mm
  種類:金屬
  樣品數(shù):160/m2(工作室水平面面積計(jì))

  三、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(氣候試驗(yàn)設(shè)備)
  1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項(xiàng):
  GB/T5170.21996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
  GB/T5170.51996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
  GB/T5170.81996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
  GB/T5170.91996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
  GB/T5170.101996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
  GB/T5170.111996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

  2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個(gè)共同問題
  1)標(biāo)準(zhǔn)適用范圍:在六項(xiàng)方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)檢定項(xiàng)目的確定,檢測(cè)儀器的選用,以及檢定條件、測(cè)試點(diǎn)數(shù)量、布點(diǎn)位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。
  2)適應(yīng)性:按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)合格的設(shè)備,可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗(yàn)。
  3)操作性:本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備使用單位應(yīng)用居多,試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。

  3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個(gè)注意點(diǎn):
  1)各分標(biāo)準(zhǔn)使用時(shí)應(yīng)與總則一起使用。
  2)對(duì)于復(fù)合試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用
  3)檢定條件:由總則規(guī)定,其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。
  4)負(fù)載要求:由總則規(guī)定,其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。

  四、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)與檢定方法標(biāo)準(zhǔn)差異辨析

對(duì)照內(nèi)容

設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

方法標(biāo)準(zhǔn)

適用范圍

產(chǎn)品的出廠檢驗(yàn)及型式檢驗(yàn)與質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)

試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定

環(huán)境條件

具有一致性

負(fù)載條件

有三項(xiàng)要求(鹽霧試驗(yàn)箱例外)

按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中的規(guī)定

檢驗(yàn)項(xiàng)目

對(duì)生產(chǎn)好的產(chǎn)品進(jìn)行綜合性能檢驗(yàn)(包括標(biāo)志、包裝、儲(chǔ)存)

按試驗(yàn)方法要求對(duì)試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)

受檢對(duì)象

生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品

外形、結(jié)構(gòu)、標(biāo)志完好控制系統(tǒng)無明顯缺陷、控制精度符合要求安全裝置功能正常

檢驗(yàn)類型

型式檢驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)、仲裁檢驗(yàn)

周期檢驗(yàn)

檢驗(yàn)結(jié)果分類

合格、不合格、批合格、批不合格

合格、準(zhǔn)用、停用

結(jié)果處理

合格出廠、不合格不準(zhǔn)出廠批不合格、逐臺(tái)檢驗(yàn)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn),合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓

合格—發(fā)合格證(或部分合格限使用范圍)
準(zhǔn)用—發(fā)準(zhǔn)用證
停用—發(fā)停用證

  五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)選擇
  1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗(yàn)方法確定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的種類,現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)一類設(shè)備,可作多種試驗(yàn)的復(fù)合試驗(yàn)箱需執(zhí)行多個(gè)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。
  2、根據(jù)試驗(yàn)方法要求,對(duì)設(shè)備進(jìn)行周期檢定時(shí),可選用一個(gè)或多個(gè)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢定。
  3、幾種常用的不同試驗(yàn)方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)

檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

代號(hào)

名稱

代號(hào)

名稱

GB2423.1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫

GB5170.2

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫

GB2423.22

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

GB2423.3

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ca:恒定濕熱

GB5170.5

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.4

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱

GB2423.9

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱

GB2423.16

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J:長(zhǎng)霉

GB2423.17

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧

GB5170.8

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.18

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb:交變鹽霧

GB2423.19

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)

GB5170.11

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.20

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kd:接觸點(diǎn)和連接件硫件氫試驗(yàn)方法

  六、進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)過程中的幾個(gè)注意點(diǎn)
  1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度
  2、注意受試品的體積、重量及擋風(fēng)橫截對(duì)設(shè)備主性能的影響
  3、設(shè)備安置場(chǎng)所環(huán)境條件 高低溫試驗(yàn)箱
  4、適當(dāng)選擇試驗(yàn)的嚴(yán)酷度

  七、結(jié)束語通過對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)的初步分析,兩類標(biāo)準(zhǔn)各自有其獨(dú)立性,但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此,準(zhǔn)確理解兩類標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍,熟悉兩類標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容的根本差異,是我們準(zhǔn)確貫徹、切實(shí)執(zhí)行兩類標(biāo)準(zhǔn)的前提。愿我們?cè)诮窈蟮氖聵I(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類標(biāo)準(zhǔn)而共同努力。