在張躍教授的指導(dǎo)下，李培峰與中科院物理所的合作者利用原位TEM機(jī)械共振，研究了ZnO微/納米線在高周應(yīng)變下的疲勞行為。系統(tǒng)研了ZnO微/納米線的彈性模量隨直徑的變化以及ZnO微/納米線共振振幅在阻尼效應(yīng)作用下隨共振時(shí)間及周次衰減的區(qū)別。ZnO微/納米線經(jīng)過108−109周次共振都顯示了良好的疲勞性能，而遭受電子束輻照10 min后的ZnO納米線共振幾秒后即發(fā)生斷裂，這在國(guó)際上尚屬首次發(fā)現(xiàn)。

　　研究結(jié)果為我們?cè)O(shè)計(jì)、構(gòu)建、優(yōu)化及應(yīng)用基于ZnO納米材料的力電納米器件提供了有益的指導(dǎo)，也為工作在紫外光、X射線下的納米材料及器件的安全服役提供了參考。

　　另外，李培峰還利用自己實(shí)驗(yàn)室搭建的納米操控系統(tǒng)研究了ZnO納米線在電場(chǎng)中的服役行為。研究發(fā)現(xiàn)ZnO納米線電致?lián)p傷的閾值電壓隨直徑的增大呈線性增大，而電流密度隨直徑的增大呈指數(shù)減小。并提出了熱核-殼模型對(duì)ZnO納米線的電致?lián)p傷機(jī)制進(jìn)行解釋。納米材料電致?lián)p傷研究對(duì)指導(dǎo)光電、力電和壓電納米器件的實(shí)際應(yīng)用是非常有必要的。

　　此外一系列利用AFM研究ZnO納米線在力場(chǎng)及力電耦合場(chǎng)中的服役行為的研究結(jié)果尚未公開發(fā)表。